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Verbundvorhaben: HGÜ Projekt - Leistungselektronik mit höherer Energieeffizienz, Leistungsdichte und Zuverlässigkeit; Teilvorhaben: Systemintegration

Zeitraum
2016-04-01  –  2019-03-31
Bewilligte Summe
64.661,14 EUR
Ausführende Stelle
Förderkennzeichen
0324023C
Leistungsplansystematik
Netze [EB1820]
Verbundvorhaben
01168169/1  –  HGU-Projekt - Leistungselektronik mit höherer Energieeffizienz, Leistungsdichte und Zuverlässigkeit
Zuwendungsgeber
Bundesministerium für Wirtschaft und Klimaschutz (BMWK.IIB5)
Projektträger
Forschungszentrum Jülich GmbH (PT-J.ESI6)
Förderprogramm
Energie
 
Zuerst werden für die Projektpartner die anlagenrelevanten Betriebspunkte und Fehlerszenarien für eine HGÜ-Systemintegration definiert. Ziel ist die Definition eines zuverlässigen Anlagenbetriebs bei Einsatz eines RC-IGBTs unter Beachtung der besonderen RC-IGBT-Ansteuerungsanforderungen. Mit der Universität Rostock werden die zu erforschenden Ziele eng abgestimmt. Die benannten Anlagenziele werden zudem an der Universität Rostock für das Thema Innovationspfade für den RC-IGBT der Zukunft verwendet. Zum Schluss des Projekts werden die Ergebnisse der Universität Rostock herangezogen, um den Aufwand bei Einsatz eines RC-IGBTs zu bewerten. Weiterhin werden die Ergebnisse des Themas der Universität Rostock Innovationspfade für den RC-IGBT der Zukunft bewertet. Heutige am Markt verfügbare IGBT-Module erfüllen die speziellen HGÜ-Anforderungen nur, weil Zusatzkomponenten den Anlagenbetrieb im Fehlerfall sicherstellen. Fällt ein Standard-IGBT-Modul aus, dann muss dieses durch einen mechanischen Kurzschließer überbrückt werden, sodass ein zuverlässiges Fortsetzen des Anlagenbetriebs möglich ist. Ziel ist, diesen wegfallen zu lassen. Dazu werden an den Partner lnfineon Technologies AG die HGÜ-spezifischen Anforderungen definiert. lnfineon Technologies AG wird im Projektverlauf einen Demonstrator herstellen. Bei der Siemens AG soll dieser Demonstrator im Fehlerfall erforscht werden. Zu diesem Zweck wird auch ein HGÜ-Submoduldemonstrator aufgebaut, an dem das Fehlerverhalten unter realen Bedingungen erforscht wird.
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