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Verbundvorhaben: Epi-lnspec - Inspektion von EpiWafern und deren Vorstufen; Teilvorhaben: Methoden der Inline-Inspektion und deren Grundlagen, Methoden der empirischen Datenanalyse zur Defektidentifikation sowie Methoden der Detailanalyse zur Ermittlung von Defektursachen

Zeitraum
2019-12-01  –  2021-12-31
Bewilligte Summe
1.799.999,00 EUR
Ausführende Stelle
Fraunhofer-Institut für Solare Energiesysteme (ISE), Freiburg im Breisgau, Baden-Württemberg
Förderkennzeichen
03EE1043C
Leistungsplansystematik
Kristallines Silizium Basismaterial [EB1011]
Verbundvorhaben
01192625/1  –  EPI-Inspec - Inspektion von EpiWafern und deren Vorstufen
Zuwendungsgeber
Bundesministerium für Wirtschaft und Klimaschutz (BMWK.IIB5)
Projektträger
Forschungszentrum Jülich GmbH (PT-J.ESE1)
Förderprogramm
Energie
 
Die übergeordnete Intention des Projekts ist die Entwicklung der benötigten Charakterisierungs-methoden für die Herstellung von kerfless-Wafern im Allgemeinen und die EpiWafer Technologie im Speziellen. Da dies bisher nur sehr eingeschränkt möglich ist, sollen in diesem Projekt umfassende Grundlagen auf vier Ebenen gelegt werden: 1. Inline-Inspektion und 2. Datenanalyse: Entwicklung und Evaluation von inline-tauglichen Inspektionsmethoden zur Identifikation der relevanten Defekte in den unterschiedlichen Produktionsstadien des EpiWafers, Erweiterung bestehender Inspektionsautomaten zur Prozessbegleitung sowie Entwicklung von Netzwerkmodellen zur automatischen und quantitativen Identifikation der relevanten Defekt in den gewonnenen Bilddaten mittels Machine-Learning. 3. Detailanalyse: Etablierung von Methoden für Detailanalysen zur Ermittlung der physikalischen Ursachen auftretender Prozessprobleme sowie Verstehen und Bewerten relevanter Defekte durch Detailcharakterisierung an ausgewählten Proben zur Klärung der mikroskopischen Ursachen und zur Entwicklung von Strategien zur Beseitigung 4. Prozessverständnis: Verständnis für Ablöseprobleme zur Steigerung der Ablöseausbeute sowie Verständnis der elektrischen Limitierungen zur Steigerung der Waferqualität Fokus des Teilvorhabens am ISE liegt auf der Entwicklung der Methoden in allen vier Teilbereichen einschließlich ihrer Grundlagen.
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